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一、導波雷達物位計概述：
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導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。
導波雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度極高，發(fā)射沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。
導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質(zhì)的距離成正比。
二、導波雷達物位計技術參數(shù)
應 用：液體及固體測量，復雜過程條件
較大量程：纜：30m/棒：6m
測量精度：±10mm
過程連接：G1?A、G2A、1?NPT
探測組件材料：不銹鋼316L
過程溫度：-40~ 150°C
過程壓力：-1.0~40bar
信號輸出：兩線制4~20Ma/HART
