產品分類 更多>>
微分干涉顯微鏡
商品描述：
應用
LCD液晶 導電粒子 彩色濾光片 手機屏幕 FPD模組 半導體晶圓片 FPC PCB IC封裝 光盤CD 圖像傳感器CCD CMOS PDA
光源: 采用3W 高亮度LED落射和透射照明裝置
物鏡: 高清晰平場熒光物鏡.
偏光: 主機內含有可調節偏光裝置
微分干涉DIC
主機內含有可調節微分干涉DIC裝置,使觀察更清晰,具有更強的立體感.調焦
國產儀器的主要用途和特點
SMK5000微分干涉金相顯微鏡采用的無限遠光學系統，同時配備明暗場通用的長工作距離平場平場消色差物鏡，多光路的系統設計，可同時支持雙目鏡筒觀察和數碼攝像裝置觀察，能在明場、暗場、偏光、微分干涉下進行觀察和攝影，配備專用軟件，更可同步進行測量分析。可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及高等工業院校進行金屬學與熱處理、金屬物理學、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用。SMK5000正置金相顯微鏡，選用的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場無限遠長工作距離明暗場物鏡，可選用微分干涉（DIC）觀測、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好。是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的，作為工業金相顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
