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產(chǎn)品推薦
MOSFET參數(shù)測試設(shè)備：
靜態(tài)參數(shù)測試（包括IGSS / BVR / VDS（Sat） / IDSS / VGSTH / VF / RDS（on））；動(dòng)態(tài)參數(shù)（開通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū)）測試（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；雪崩能力測試，老化及可靠性測試（HTRB / HTGB）。
IGBT參數(shù)測試設(shè)備：
靜態(tài)參數(shù)測試（包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE）；動(dòng)態(tài)參數(shù)（開通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū)）測試（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；老化及可靠性測試（HTRB / HTGB）。
二極管及可控硅/晶閘管（SCR）參數(shù)測試設(shè)備：
靜態(tài)參數(shù)測試（包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL ）；動(dòng)態(tài)參數(shù)測試（Turn_on&off / Qrr_FRD）；浪涌參數(shù)測試ITSM；di/dt測試；老化及可靠性測試（高溫阻斷）；熱阻參數(shù)測試Rth。
產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優(yōu)勢，將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計(jì)、制造、封裝廠商及高校研究所等。
