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BGA169燒錄座老化測試座
基于SD卡的eMMC測試座
一 產品特點：
※ 支持熱拔插，可直接插讀卡器與電腦連接測試。
※ 同時兼容：東芝、三星、海力士、Intel 、Sandisk(新帝) 等所有同樣封裝的4BIT 、8BIT eMMC 閃存記憶體。如圖示 (只需相應PIN腳定義一樣 )；
※ 同時兼容 169-FBGA 153-FBGA ,不同尺寸IC(11.5x13,12x16,12x18,14x18mm),可自行更換限位框實現通用性降低使用成本。
※ 采用雙頭探針，性能穩定使用壽命長，使用壽命是同類產品的10倍以上；
※ 維護方便，不良探針可更換，重復利用率較高，降低使用成本。
※ 兼容有球無球測試，通用性好，降低使用成本。
※ 采用手動翻蓋式結構,操作方便簡單。
※ 采用浮板結構,定位,取放IC方便，工作效率更高。
※ 可進行測試和低級格式化。
二 測試
（1） 選擇和IC尺寸相同的限位框按方向裝在浮板上(標配限位框為 14X18，11.5X13 12X16 12X18 )
（2） 把IC按方向平放入限位框內,合上socket上蓋。
（3） 選擇相對應的電壓,本測試治具默認電壓為3.3V，如果要求為1.8V請把跳帽到2～3位置，
（4） 選擇和IC相應的位數,本測試治具默認值位8BIT,如果是4BIT的,請把四位開關全部撥到OFF位置，
（5） 把eMMC 夾具按方向插在讀卡器上，打開相應的測試軟件進行測試。
三、維修與保養
在使用本產品過程中如發現測試性能不穩定，建議用以下方法解決：
a) 用手按下浮板使探針露出,用防靜電刷輕刷幾遍，去除雜質,使其接觸良好;
b) 用手按下浮板使探針露出,檢查探針有歪和斷頭現象,如有此現象請按圖示把相應不良探針更換。
c) 如發現有大面積接觸不良，請與我們聯系。
d) 嚴禁用天那水、有機溶劑，浸泡、清洗。
e) 長時間不使用時，請用防靜電袋密封保存，避免灰塵落入，影響產品測試性能。
